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Aluminum Nitride Wafer Substrates
6” Aluminum Nitride wafers
8“ Aluminum Nitride wafers
Aluminum Nitride Wafer Substrates

Aluminiumnitrid-Wafer-Substrate

Innovaceras standard Aluminiumnitrid-Wafer-Durchmesser liegen zwischen 50,8 mm (2 Zoll) und 200 mm (8 Zoll); am häufigsten verwendet werden 6″-Aluminiumnitrid-Wafer und 8″-AlN-Wafer-Substrate. AlN-Wafer können in verschiedenen Dicken von 0,125 mm bis 1 mm mit polierter oder geschliffener Oberfläche hergestellt werden, kundenspezifische Größen oder Anforderungen sind ebenfalls verfügbar.

Angebot/Bestellung

Aluminiumnitrid (AIN) Materialien spielen eine wichtige Rolle in der Halbleiterindustrie. Die Ähnlichkeit ihres Wärmeleitprofils mit dem von Silicium hat sie zu einer idealen Wahl für wafer-basierte Halbleiteranwendungen gemacht. Innovaceras Aluminiumnitrid-Wafer zeichnen sich durch hohe Zuverlässigkeit von Si-Chips und thermische Temperaturzyklen aus.

Gemäß der Direkt-Wafer-Bonding-Technologie können polierte Halbleiterwafers ohne Klebstoffe verbunden werden. Das Direkt-Wafer-Bonding erfordert extrem flache und hochglatte Oberflächen (Ra≤0,05 µm), die Innovacera AlN-Wafer-Substrate erfüllen können.

Eigenschaften

  • Hoher Schmelzpunkt
  • Hohe elektrische Isolierung
  • Niedrige Dielektrizitätskonstante
  • Höhere mechanische Festigkeit
  • Überlegene Korrosionsbeständigkeit gegen geschmolzenes Metall
  • Thermische und chemische Stabilität
  • Hohe Wärmeleitfähigkeit (170-220 W/m·K)
  • Ähnlicher Ausdehnungskoeffizient wie Silicium (Si)

Eigenschaften

Eigenschaften Einheit AN170 AN230 AN99 AN999
Farbe - Grau Beige Grau Beige
ALN-Gehalt - ≥95% ≥96% ≥99% ≥99,9%
Gesamtdichte g/cm³ ≥3,30 ≥3,28 ≥3,26 ≥3,25
Biegefestigkeit MPa ≥400 ≥300 ≥300 ≥300
Druckfestigkeit MPa 2500 2000 2000 2000
Hv 500g GPa 10,5 9,0 9,0 9,0
Elastizitätsmodul GPa 300 300 280 280
Wärmeleitfähigkeit (@20°C) W/m·K ≥170 ≥220 ~100 ~90
Spezifische Wärme kJ/(kg·K) 0,74 0,73 0,73 0,73
Wärmeausdehnungskoeffizient (r.t.-400°C) 10-6/K 4,6 4,6 4,6 4,6
Volumenwiderstand Ω·cm 20°C ≥1014 ≥1013 ≥1010 ≥1010
Dielektrische Festigkeit kV/mm ≥16 ≥15 ≥15 ≥15
Dielektrizitätskonstante (@1MHz) - 8,6 8,6 8,6 8,6
Verlustfaktor (@1MHz) ×10-4 5 5 5 5

AlN-Wafer-Spezifikation

Eigenschaften Einheit 6" Wafer 8" Wafer
Material - AlN-Keramik AlN-Keramik
Wärmeleitfähigkeit W/m·K >170 >170
Wärmeausdehnungskoeffizient ppm/K (300–1200 K) 4–6 4–6
Sinterhilfsmittel - Y2O3 Y2O3
Durchmesser mm 150±0,25 200±0,25
Nuten-Tiefe mm 1,0+0,25/-0/Lokalisierungskante 1,0+0,25/-0
Nutenwinkel - 90°+5/-2° 90°+5/-2°
Dicke µm 400±15 400±15
TTV µm <10 <10
BOW µm <±30 <±30
Warp µm <50 <50
Ra nm <50 <50

Anwendungen

  • Halbleiterherstellung
  • Mikrowellenleistungsverstärker
  • RF-Leistungs- und Schalter
  • Hochtemperatur-Leistungselektronik
  • Laserdioden-Dispersion-Optoelektronische Bauteile
  • Hochleistungs- und hochfrequente elektronische Bauteile
  • MOSFET-, IGBT-Leistungsmodulen
  • LED-Gehäuse für Kühlung und Schutzschaltungen

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